تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش فلورسانس پرتو ایکس یا XRF

آخرین محصولات ویژه

تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش فلورسانس پرتو ایکس یا XRF

دسته بندي : سایر رشته ها ...

روش فلورسانس پرتوی ایکس یا XRFیا طیف سنجی پرتوی ایکس یکی از روشهای آنالیز عنصری است که امروزه از آن به طور وسیعی در صنعت و مراکز پژوهشی استفاده می شود. این روش، به ویژه به خاطر سرعت زیاد در شناسایی عنصری، برای برخی از صنایع ضروری است. طیف سنج فلورسانس پرتو ایکس، وسیله ای مستقل برای آنالیز محتوای عنصری است. این طیف سنج از تابش پرتوی ایکس برای تحریک انتشار پرتوهای ایکس مشخصه از اتم های نمونه استفاده می کند. عبارت فلورسانس برای ایجاد تمایز بین پرتوی ایکس ثانویه ساطع شده از اتم های نمونه و پرتوهای ایکس اولیه که به نمونه تابیده، استفاده میشود.

ارائه شده در دانشگاه صنعتی شریف
قابل ارائه برای رشته های مهندسی مواد، نانومواد و فیزیک مقطع کارشناسی و کارشناسی ارشد
قابل ارائه برای درس روش های آنالیز مواد

دسته بندی: سایر رشته ها ...

تعداد مشاهده: 1979 مشاهده

کد فایل:16441

انتشار در:۱۴۰۳/۸/۱۷

حجم فایل ها:862.8 کیلوبایت

تعداد صفحات: 17

زبان: فارسی

فرمت: (PDF) غیر قابل ویرایش

فهرست: دارد

منابع و مآخذ: دارد

جدول و نمودار: دارد

عکس و تصویر: دارد